旋转物体的运动误差是精密机械工程中最热门的一项研究。对于高速丝杆,相对于理想旋转,即使只有亚纳米的偏差,也会引起不良的振动和运动误差。目前从纳米X射线断层扫描研究到机械工程,主要方向为监控运动误差达纳米级。一直以来,最主要的目标:如何最小的控制运动误差?IDS3010干涉仪插入式测量方案能够较好的满足上述需求。
在任何机械旋转部件以及高精度采样应用中,面临的主要问题都是一样的:轴的运动偏差–见图1-是否定义完善并且完全被控制?
加工应用中,控制驱动轴同心度的典型应用:轴的偏心度直接导致运动不平衡情况。随着质量或者是转速的增减,不仅会影响机械件的精度,而且仪器的不稳定也会导致磨损和断裂出现。纳米X射线断层分析中也有同样的情况:在同步辐射中,一个典型的高精度晶体分析需要对于晶体旋转中心有更深的认识。任何误差或者漂移都会导致数据分析明显失真.
为了解决这个问题,先要了解问题的关键。通常情况下,对于一个线性位移传感器,行程较大,亚纳米精度,首选干涉仪方法。但是,这种方法一般要求被测目标为平面,当测量旋转运动时,待测面为曲面。因此,到目前为止,运动误差特性测量设备并没有采用干涉仪方法,主要元件为铟钢传感器——如用于纳米X射线断层扫描的电容传感器或者用于机械工程的接触式CMM。这个新的设计,扩大了传统线性位移传感器领域,实现了弧面测量的功能。